48 Pharmaceutical Technology Edición Sudamérica 2025 - N º195 No obstante, la preparación de la muestra para este tipo de técnica es costosa a la par que compleja, ya que necesita tener una anchura inferior a 100 nm y ser estable al vacío (Figuras 2a y 2b) 6 . Otra de las técnicas para determinar el tamaño y forma de partículas, así como las propiedades eléctricas, magnéticas y químicas, incluida la rugosidad y textura, es lamicroscopía de fuerza atómica (AFM) por sus siglas en inglés Atomic Force Microscopy . Figura 2b . Imágenes obtenidas por TEM (izquierda) y SEM (derecha) (5,6). Figura 2a Representación esquemática SEM y TEM 5,6
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